Accès ouvert

Effect of Cu Incorporation on Optoelectronic Properties of e-Beam Evaporated ZnO thin Films by Ellipsometric Investigations

Article scientifique 2021 Anglais

Résumé

Citer ce document

Ali, G., Moustafa, S., Amer, M., Shaban, H., Emam-Ismail, M., Shaaban, E., El-Hagary, M. (2021). Effect of Cu Incorporation on Optoelectronic Properties of e-Beam Evaporated ZnO thin Films by Ellipsometric Investigations. https://doi.org/10.21203/rs.3.rs-294805/v1

Accès au document

Texte intégral en lecture en ligne, réservé aux abonnés SPHAERO et aux membres de l'institution. Se connecter

Voir l'article sur le site de la revue

Auteur(s)

Gharieb A. Ali S.H. Moustafa M.I. Amer H. Shaban M. Emam-Ismail E.R. Shaaban M. El-Hagary

Statistiques

Consultations : 1

Téléchargements : 0